在撰寫(xiě)專利或者對(duì)專利布局時(shí)，我們總是要對(duì)專利進(jìn)行提交規(guī)劃，且需要進(jìn)行相應(yīng)的專利規(guī)避設(shè)計(jì)。小編給大家分享：如何利用有效專利開(kāi)展規(guī)避設(shè)計(jì)？

一、什么是專利規(guī)避設(shè)計(jì)？

專利規(guī)避設(shè)計(jì)是一項(xiàng)源起美國(guó)的合法競(jìng)爭(zhēng)行為，它是一種避免侵害某一專利的權(quán)利要求范圍所進(jìn)行的一種持續(xù)性創(chuàng)新與設(shè)計(jì)活動(dòng)，本質(zhì)是一種研發(fā)活動(dòng)。專利規(guī)避設(shè)計(jì)是技術(shù)追趕者積極可行的專利策略。

二、如何利用有效專利開(kāi)展規(guī)避設(shè)計(jì)？

有效的專利權(quán)具有一定的保護(hù)范圍，即公權(quán)力機(jī)構(gòu)授予的權(quán)利限定于專利授權(quán)文本中的權(quán)利要求書(shū)，一般，權(quán)利要求書(shū)由多個(gè)技術(shù)特征組成，最大保護(hù)范圍的獨(dú)立權(quán)利要求包括多個(gè)必要技術(shù)特征。而我們是否可以利用這些有效的專利，為我們的研發(fā)提供有用的信息呢？

根據(jù)專利侵權(quán)判定的全面覆蓋和等同原則，只要有一個(gè)必要技術(shù)特征不同或者減少，即不落入該專利的保護(hù)范圍，也即不侵權(quán)。按照這個(gè)思路，在研發(fā)設(shè)計(jì)時(shí)，通過(guò)檢索大量的專利、進(jìn)行技術(shù)分析，可以得出專利的技術(shù)路徑，從而進(jìn)行規(guī)避設(shè)計(jì)。規(guī)避設(shè)計(jì)的方法有很多，可參考研發(fā)的TRIZ理論進(jìn)行多維度的假定和設(shè)計(jì)。另一方面，在不斷的假定中提供了創(chuàng)新的源泉，可以從中探索該技術(shù)或者該產(chǎn)品在未來(lái)可能的發(fā)展趨勢(shì)，始終走在創(chuàng)新的前沿。

大多情況下，規(guī)避設(shè)計(jì)中假定的技術(shù)方案，有些技術(shù)方案可能因?yàn)槿藛T、成本、工藝等各方面的考慮未能在實(shí)際研發(fā)過(guò)程中被采納，但是也有必要考慮是否需要將放棄的技術(shù)方案申請(qǐng)專利保護(hù)，即便這個(gè)方案最終未能獲得授權(quán)，但是作為一個(gè)公開(kāi)的專利申請(qǐng)，其記載的技術(shù)方案已屬于公知技術(shù)，其他人也無(wú)法取得該技術(shù)方案的專利權(quán)，于己是有百利而無(wú)一害的。